K6-C涂層測厚儀內(nèi)部配備了不同頻率和晶片尺寸的探頭，可以實現(xiàn)對不同材料的表面鍍膜厚度測量，通過探頭到零度校準和兩點校準等功能進行自動的誤差調(diào)整，同時，使用反測聲速，來提升測量準確度。根據(jù)測量的材質不同而使用不同的測量方式。其中，常用的兩種測量工作方式是磁感應測量和電渦流測量。
磁感應測厚方法主要用來測量導磁性材料上的非導磁鍍層厚度，這種測量的方法準確度較高，通常用來測量鋼、鐵、銀等導磁材料。當K6-C涂層測厚儀的探頭與覆層接觸時，探頭會與磁性金屬基體形成一個閉合的磁路，但是磁性金屬表面的非磁性覆層將會阻礙磁路，從而發(fā)生磁阻變化，通過測量磁阻的變化量，就可以得到表面覆蓋層的厚度。
影響K6-C涂層測厚儀測量結果的因素可能有：
1、覆蓋層厚度大于25μm時，其誤差與覆蓋層厚度近似成正比；
2、基體金屬的電導率對測量有影響，它與基體金屬材料成分及熱處理方法有關；
3、任何一種測厚儀都要求基體金屬有一個臨界厚度,，只有大于這個厚度，測量才不會受基體金屬厚度的影響；
4、對試樣測定存在邊緣效應,，即對靠近試樣樣邊緣或內(nèi)轉角處的測量是不可靠的；
5、試樣的曲率對測量有影響，這種影響將隨曲率半徑的減小明顯地增大；
6、基體金屬和覆蓋層的表面粗糙度影響測量的精度，粗糙度增大，影響增大。
